提問(wèn)者：測(cè)試部劉工

回答者：世邁騰賀工

Q1：被測(cè)電路板的上板方式是如何？又是通過(guò)什么方式來(lái)定位的？

A：上板方式有手動(dòng)上下板和自動(dòng)流水線（常見(jiàn)的是SMEMA傳輸協(xié)議）2種方式。

定位方式：通過(guò)攝像頭在被測(cè)板對(duì)角線的兩個(gè)區(qū)域中，搜尋預(yù)先設(shè)置的MARKER的圖形，確定當(dāng)前的兩個(gè)MARKER的坐標(biāo)后，對(duì)落針點(diǎn)的坐標(biāo)進(jìn)行修正。

Q2：機(jī)器保修期多長(zhǎng)？

A：機(jī)器標(biāo)準(zhǔn)的保修期是1年，如根據(jù)客戶要求也可以和我們簽性價(jià)比非常高的延保服務(wù)。

Q3：飛針測(cè)是不是類(lèi)似于萬(wàn)用表的針？經(jīng)過(guò)電腦編程程序，自動(dòng)檢測(cè)開(kāi)路，短路等問(wèn)題？

A：從功能上來(lái)說(shuō)飛針探針和萬(wàn)用表表筆一樣，都是用來(lái)給輸入激勵(lì)，量輸出響應(yīng)的，以達(dá)到測(cè)試的目的，但是飛針探針在結(jié)構(gòu)上又區(qū)別于萬(wàn)用表表筆，萬(wàn)用表表筆較多采用是無(wú)彈性的簡(jiǎn)單尖針，而飛針探針采用的是具有彈性且利于更換的表面一般鍍金處理的結(jié)構(gòu)較復(fù)雜的定制探針（一般不通用，根據(jù)公司針套結(jié)構(gòu)去選擇）。

Q4：飛針的測(cè)試探針一般多久更換一次？探針是國(guó)產(chǎn)的還是進(jìn)口的？

A：測(cè)試探針根據(jù)其表面電鍍金屬種類(lèi)，有不同的使用壽命，大多數(shù)廠家采用質(zhì)量相對(duì)較好的表面鍍金處理的探針，使用壽命一般達(dá)到100萬(wàn)次時(shí)就建議及時(shí)更換，可能有些人對(duì)100萬(wàn)次的概念不是很明確，舉個(gè)例子，有塊1000個(gè)測(cè)試點(diǎn)的UUT，每個(gè)測(cè)試點(diǎn)都是一次性通過(guò)，即不出現(xiàn)復(fù)測(cè)，則一個(gè)板子需要扎1000次，平均到每個(gè)探針需要扎250次，即可算出大概測(cè)4000片UUT后，建議及時(shí)更換探針。當(dāng)然平時(shí)測(cè)試過(guò)程中，如未達(dá)到使用壽命時(shí)就發(fā)現(xiàn)有探針變形或者缺損而誤報(bào)等影響測(cè)試現(xiàn)象也需要立即更換。針的壽命跟被扎測(cè)試點(diǎn)的大小有關(guān)系，如果測(cè)試點(diǎn)都比較大，可以選擇針尖較粗點(diǎn)的探針型號(hào)，這種情況下壽命可達(dá)到200萬(wàn)次。

探針品牌既有國(guó)產(chǎn)的也有進(jìn)口的，我們是采用進(jìn)口品牌的測(cè)試探針。

Q5：為什么選擇世邁騰飛針測(cè)試儀？機(jī)器可以測(cè)試500x800mm的大板子嗎？

A：世邁騰飛針測(cè)試儀是一臺(tái)靈活多用的ICT測(cè)試儀，能夠定量地對(duì)電阻、電容、電感、晶振等器件進(jìn)行測(cè)量，對(duì)二極管、三極管、光藕、變壓器、繼電器、運(yùn)算放大器、電源模塊等進(jìn)行功能測(cè)試，對(duì)中小規(guī)模的集成電路進(jìn)行功能測(cè)試，如所有74系列、Memory 類(lèi)、常用驅(qū)動(dòng)類(lèi)、交換類(lèi)等IC器件。對(duì)工藝類(lèi)可發(fā)現(xiàn)如焊錫短路，元件插錯(cuò)、插反、漏裝，管腳翹起、虛焊，PCB短路、斷線等故障。測(cè)試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)上，故障定位準(zhǔn)確。使得維修方便，可大幅提高生產(chǎn)效率和減少維修成本。

我們關(guān)注產(chǎn)品的應(yīng)用，同時(shí)也做了二十多年的飛針售后服務(wù)，積累了飛針測(cè)試技術(shù)問(wèn)題，可以避免一些問(wèn)題，讓產(chǎn)品更好用。操作界面采用中文界面及通用化的測(cè)試項(xiàng)，操作簡(jiǎn)單。

我們的標(biāo)準(zhǔn)機(jī)器測(cè)試板子的******尺寸是500mm*400mm,500mm*800mm的板子我們的定制機(jī)器可實(shí)現(xiàn)。

Q 6：哪些因素會(huì)導(dǎo)致探針變形或缺損？有沒(méi)有辦法避免？

A：導(dǎo)致變形或缺損的因素有：1、測(cè)試點(diǎn)旁邊的器件過(guò)高2、測(cè)試點(diǎn)如果是焊點(diǎn)，會(huì)受焊點(diǎn)的高低不確定性的影響………

常用避免方式有：1、這種設(shè)置禁飛區(qū)，避免碰到高器件2、被測(cè)UUT盡量設(shè)計(jì)測(cè)試點(diǎn)

Q7：X,Y,Z三個(gè)軸所用技術(shù)，伺服？直線？精度？

A：目前我們A4的X,Y,Z三個(gè)軸都采用交流伺服電機(jī)，X、Y軸采用滾珠導(dǎo)軌+絲杠的傳動(dòng)結(jié)構(gòu)，Z軸采用齒形帶傳動(dòng)結(jié)構(gòu)。

我們平常說(shuō)的精度包含3個(gè)概念：分辨率、精度（accuracy）、準(zhǔn)確度，而影響設(shè)備測(cè)試最關(guān)鍵的參數(shù)是準(zhǔn)確度。A4的X、Y軸的準(zhǔn)確度是±30μm，比如一個(gè)寬度200μm 的01005器件，A4是完全可以測(cè)試的。

Q8：飛針能完全取代針床ICT嗎？客戶之所以選擇飛針，而放棄針床ICT，主要原因是什么？

A：針床測(cè)試的******特點(diǎn)是設(shè)備機(jī)構(gòu)簡(jiǎn)單，測(cè)試速度快，適用于產(chǎn)品單一量特別大的高速生產(chǎn)型企業(yè)。

也不是說(shuō)飛針能完全取代針床測(cè)試，對(duì)于上面提到那種產(chǎn)品單一產(chǎn)量特別大的高速生產(chǎn)型企業(yè)，針床也是有其存在的必要性，但是隨著時(shí)代的變革，越來(lái)越多的企業(yè)會(huì)向型號(hào)多樣化，產(chǎn)品更新速度快的模式轉(zhuǎn)變，所以對(duì)于這些轉(zhuǎn)型的企業(yè)，會(huì)更傾向于靈活度更高的飛針測(cè)。

客戶選擇我們的飛針主要原因如下：1、針床治具開(kāi)發(fā)周期較長(zhǎng)，可為客戶節(jié)省開(kāi)發(fā)周期，加快產(chǎn)品上市。2、飛針無(wú)需制作治具，具有較高的靈活性，對(duì)于那種小批量多品種生產(chǎn)特性的公司，可節(jié)約較大的治具成本。3、很多被測(cè)產(chǎn)品沒(méi)有設(shè)計(jì)測(cè)試點(diǎn)，無(wú)法完成測(cè)試，飛針就可以實(shí)現(xiàn)在焊點(diǎn)上進(jìn)行測(cè)試。4、產(chǎn)品的元件尺寸越來(lái)越小，芯片的引腳間距也越來(lái)越小，測(cè)試點(diǎn)及焊點(diǎn)也越來(lái)越小，針床植針的最小間距是1mm，無(wú)法完成這些小元件和細(xì)腳間距芯片的測(cè)試。但飛針的測(cè)試最小間距可做到100μm，飛針可以完成這些測(cè)試。

Q9：芯片越來(lái)越小，若測(cè)試點(diǎn)（元器件位置）在板子邊緣，飛針是不是都能測(cè)到？若測(cè)點(diǎn)越來(lái)越密集，飛針相互完全可以避免觸及對(duì)方么？若意外兩針觸及對(duì)方，會(huì)不會(huì)短路？或者影響測(cè)試結(jié)果？

A：板子的測(cè)試點(diǎn)周?chē)灰邢箩樋臻g飛針就可以實(shí)現(xiàn)測(cè)試，對(duì)于那些處于板子邊緣的測(cè)試點(diǎn)，也是一樣的道理，只要設(shè)備的夾邊或轉(zhuǎn)接工裝的夾邊不蓋住測(cè)試點(diǎn)，我相信飛針就可以實(shí)現(xiàn)測(cè)試。

另外，如果被測(cè)點(diǎn)完全處于UUT的邊緣，不但無(wú)法落針，甚至裝夾都無(wú)法實(shí)現(xiàn)。遇到這種情況，可以通過(guò)制作一簡(jiǎn)單夾具作為過(guò)渡，完成裝夾和測(cè)試。

飛針探針與垂直方向是有一個(gè)傾斜角度的，所以可以做到兩個(gè)頭的探針短路，另外世邁騰飛針的準(zhǔn)確度可做±30μm，我們的電路板制造工藝目前能做到的最小中心距是200μm。

Q10：大的集成電路，飛針是不是仍舊有優(yōu)勢(shì)？可以都測(cè)嗎？準(zhǔn)確度是否高？

A：大的集成電路因?yàn)榧?xì)腳間距的影響針床植針，所以相對(duì)于針床而言，飛針是有優(yōu)勢(shì)的。但是目前ICT測(cè)試主要還是測(cè)試集成電路的焊接缺陷（如短路、開(kāi)焊等），而不能測(cè)試芯片的功能，準(zhǔn)確度來(lái)說(shuō)并不是很高。而世邁騰定制化的飛針測(cè)可結(jié)合邊界掃描技術(shù)，以提高測(cè)試準(zhǔn)確度。