法國Tem邊界掃描測(cè)試儀

法國 TEMENTO 邊界掃描測(cè)試
法國Temento公司開發(fā)的邊界掃描測(cè)試儀針，針對(duì)電路板的這四個(gè)階段，或者說這四個(gè)不同的部門，提供了適應(yīng)其各自特點(diǎn)的工作平臺(tái)。
所屬分類：

意大利SEICA飛針測(cè)

關(guān)鍵詞：

邊界掃描測(cè)試

產(chǎn)品描述

法國Tem邊界掃描測(cè)試儀

一個(gè)電子產(chǎn)品，她的生命要經(jīng)過電路設(shè)計(jì)，設(shè)計(jì)調(diào)試，工藝設(shè)計(jì)，生產(chǎn)制造，投入使用后返修等階段，在這幾個(gè)階段，都要對(duì)電路板進(jìn)行測(cè)試準(zhǔn)備或?qū)嶋H測(cè)試。

設(shè)計(jì)部門要對(duì)電路做可測(cè)試性設(shè)計(jì)和電路板的實(shí)驗(yàn)調(diào)試，工藝部門要對(duì)電路板制定測(cè)試工藝和編制測(cè)試程序，生產(chǎn)部門要在電裝生產(chǎn)制造后對(duì)電路板測(cè)試，維修部門要對(duì)使用后發(fā)生故障的電路板做故障檢查修理。

法國Temento公司開發(fā)的邊界掃描測(cè)試儀針，針對(duì)電路板的這四個(gè)階段，或者說這四個(gè)不同的部門，提供了適應(yīng)其各自特點(diǎn)的工作平臺(tái)。

ENG平臺(tái) 針對(duì)電路板的實(shí)驗(yàn)調(diào)試階段或部門的應(yīng)用；

IND平臺(tái) 針對(duì)制定測(cè)試工藝和編制測(cè)試程序階段或部門的應(yīng)用；

PRO平臺(tái) 針對(duì)生產(chǎn)制造階段或部門的實(shí)際測(cè)試應(yīng)用；(需要IND的編程支持)

REP 平臺(tái) 針對(duì)維修階段或部門的故障診斷修理應(yīng)用；(需要IND的編程支持)

這四個(gè)系列的產(chǎn)品每個(gè)都分為三個(gè)級(jí)別：

C級(jí)是基本級(jí)，支持1-3個(gè)TAP端口；

E級(jí)是擴(kuò)展級(jí)，支持1-6個(gè)TAP端口；

P級(jí)是完整級(jí)，支持1-無限個(gè)TAP端口

在這幾個(gè)系列產(chǎn)品中，IND-P 是功能全，級(jí)別高的產(chǎn)品。

必選的選件：

TEM1 JTAG 控制器，具備1個(gè)TAP 接口，帶一條電纜

TEM4 JTAG 控制器，具備4個(gè)TAP 接口，帶一條電纜

(以上兩個(gè)要選一項(xiàng))

CAB 電纜

其他選件：

ISP Flash 板上編程軟件

PCB PCB 圖像軟件

IO320 320點(diǎn)I/O接插件擴(kuò)展

IO60 60點(diǎn)I/O接插件擴(kuò)展

ENG設(shè)計(jì)調(diào)試平臺(tái)

針對(duì)電路板的實(shí)驗(yàn)調(diào)試階段或部門的應(yīng)用

這個(gè)平臺(tái)使工程師可以利用JTAG標(biāo)準(zhǔn)下的邊界掃描全部功能，確認(rèn)調(diào)試和測(cè)試電路板。這個(gè)平臺(tái)包含了所有的功能：定義測(cè)試對(duì)象，檢查BSDL，檢查掃描鏈路，執(zhí)行互連測(cè)試，用TCL生成功能測(cè)試，對(duì)信號(hào)和網(wǎng)點(diǎn)做診斷，所有工作不超過2天就可以完成。一個(gè)重要的好處是，可以在設(shè)計(jì)調(diào)試階段分析測(cè)試覆蓋率和可測(cè)試性，利用網(wǎng)點(diǎn)導(dǎo)航可以方便的調(diào)整設(shè)計(jì)以提高可測(cè)試性和測(cè)試覆蓋率，使DFT進(jìn)一步優(yōu)化。

使您的工作很靈活，多功能，易擴(kuò)展，更快速!

設(shè)計(jì)調(diào)試平臺(tái)技術(shù)要點(diǎn)

測(cè)試覆蓋率和可測(cè)試性分析

BSDL器件檢查

基本結(jié)構(gòu)檢查(掃描鏈路完整性檢查)

面向互連，區(qū)間，存儲(chǔ)器的ATPG自動(dòng)測(cè)試程序發(fā)生器

交互性調(diào)試

支持90種以上網(wǎng)絡(luò)表格式

使用TCL語言開發(fā)用戶測(cè)試程序

用波形圖或狀態(tài)表顯示結(jié)果

交互式故障診斷電路板或器件

交互式控制和觀察寄存器，總線，引腳上的數(shù)字信號(hào)

對(duì)FLASH和PLD板上編程

SVF文件格式輸出

PCI和USB接口控制器

設(shè)計(jì)調(diào)試平臺(tái)包括軟件模塊

系統(tǒng)構(gòu)建：定義元器件，區(qū)域，板，系統(tǒng)，網(wǎng)絡(luò)表導(dǎo)入

工具箱：先進(jìn)的調(diào)試功能，獨(dú)立確認(rèn)TMS, TCK, TDI, TDO, TRST信號(hào)

BSDL檢查：檢查BSDL符合IEEE1149.1規(guī)范

交互式調(diào)試：隔離故障，便于調(diào)試診斷

ATPG1基礎(chǔ)：檢查掃描鏈路，與設(shè)計(jì)性能保持一致

ATPG2互連：自動(dòng)測(cè)試可測(cè)試引腳之間的互連

ATPG3存儲(chǔ)區(qū)域：自動(dòng)測(cè)試SRAM, SDRAM, DDR2,FLASH, NAND FLASH,

SIP Serial Flash, Asynchronous FIFO 等器件之間的互連

測(cè)試擴(kuò)展：TCL測(cè)試擴(kuò)展用于測(cè)試用戶自定義的其他進(jìn)一步測(cè)試

程序裝載：可以在調(diào)試和測(cè)試同時(shí)對(duì)FPGA和CPLD裝載程序

Flash編程(option)：可以對(duì)任何形式的Flash存儲(chǔ)器編程

網(wǎng)表合并(option)：自動(dòng)生產(chǎn)系統(tǒng)的網(wǎng)絡(luò)表，針對(duì)拼板測(cè)試生成

網(wǎng)點(diǎn)導(dǎo)航：生成交互式參考表，顯示網(wǎng)點(diǎn)，引腳，JTAG單元，

可以按名字，引腳，單元搜索

Run time生成：輸出所有的數(shù)據(jù)庫到其他的相關(guān)平臺(tái)

API 服務(wù)器(option)：可以提供應(yīng)用程序接口，以和用戶使用的通用軟件平臺(tái)例如

Windows CVI, Labview 等銜接使JTAG測(cè)試一體化

IND編程測(cè)試平臺(tái)

針對(duì)制定測(cè)試工藝和編制測(cè)試程序階段或部門的應(yīng)用；

本平臺(tái)自己可以執(zhí)行完整的測(cè)試，還將測(cè)試準(zhǔn)備好，完整的提交給下一個(gè)生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)，使得生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)可以簡便完整的運(yùn)行測(cè)試。

編程測(cè)試平臺(tái)技術(shù)要點(diǎn)

測(cè)試覆蓋率和可測(cè)試性分析

BSDL器件檢查

基本結(jié)構(gòu)檢查(掃描鏈路完整性檢查)

面向互連，區(qū)間，存儲(chǔ)器的ATPG自動(dòng)測(cè)試程序發(fā)生器

交互性調(diào)試

支持90種以上網(wǎng)絡(luò)表格式

使用TCL語言開發(fā)用戶測(cè)試程序

用波形圖或狀態(tài)表顯示結(jié)果

交互式故障診斷電路板或器件

交互式控制和觀察寄存器，總線，引腳上的數(shù)字信號(hào)

對(duì)FLASH和PLD板上編程

SVF文件格式輸出

PCI和USB接口控制器

組織管理測(cè)試數(shù)據(jù)根據(jù)實(shí)際需要

運(yùn)行完整的測(cè)試程序

調(diào)整或簡化測(cè)試方案

輸出測(cè)試程序給生產(chǎn)平臺(tái)

編程測(cè)試平臺(tái)包括軟件模塊

系統(tǒng)構(gòu)建：定義元器件，區(qū)域，板，系統(tǒng)，網(wǎng)絡(luò)表導(dǎo)入

工具箱：先進(jìn)的調(diào)試功能，獨(dú)立確認(rèn)TMS, TCK, TDI, TDO, TRST信號(hào)

BSDL檢查：檢查BSDL符合IEEE1149.1規(guī)范

交互式調(diào)試：隔離故障，便于調(diào)試診斷

ATPG1基礎(chǔ)：檢查掃描鏈路，與設(shè)計(jì)性能保持一致

ATPG2互連：自動(dòng)測(cè)試可測(cè)試引腳之間的互連

ATPG3存儲(chǔ)區(qū)域：自動(dòng)測(cè)試SRAM, SDRAM, DDR2,FLASH, NAND FLASH,

SIP Serial Flash, Asynchronous FIFO 等器件之間的互連

測(cè)試擴(kuò)展：TCL測(cè)試擴(kuò)展用于測(cè)試用戶自定義的其他進(jìn)一步測(cè)試

程序裝載：可以在調(diào)試和測(cè)試同時(shí)對(duì)FPGA和CPLD裝載程序

Flash編程(option)：可以對(duì)任何形式的Flash存儲(chǔ)器編程

網(wǎng)表合并(option)：自動(dòng)生產(chǎn)系統(tǒng)的網(wǎng)絡(luò)表，針對(duì)拼板測(cè)試生成

網(wǎng)點(diǎn)導(dǎo)航：生成交互式參考表，顯示網(wǎng)點(diǎn)，引腳，JTAG單元，

可以按名字，引腳，單元搜索

Run time生成：輸出所有的數(shù)據(jù)庫到其他的相關(guān)平臺(tái)

API 服務(wù)器(option)：可以提供應(yīng)用程序接口，以和用戶使用的通用軟件平臺(tái)例如

Windows CVI, Labview 等銜接使JTAG測(cè)試一體化

測(cè)試管理：根據(jù)需要選擇調(diào)整測(cè)試方案策略

測(cè)試報(bào)告編輯：根據(jù)使用要求編輯任何形式的報(bào)告格式

生產(chǎn)測(cè)試準(zhǔn)備：本平臺(tái)自己可以執(zhí)行完整的測(cè)試，

還將測(cè)試準(zhǔn)備好，完整的提交給下一個(gè)生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)，使得生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)可以簡便完整的運(yùn)行測(cè)試。

PRO生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)

針對(duì)生產(chǎn)制造階段或部門的實(shí)際測(cè)試應(yīng)用；

本平臺(tái)使測(cè)試成為很簡便的一鍵式操作，只需選擇測(cè)試編程平臺(tái)傳遞下來的測(cè)試程序。管理員可以選擇測(cè)試順序和測(cè)試程序。

生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)技術(shù)要點(diǎn)

調(diào)入測(cè)試編程平臺(tái)的程序

執(zhí)行自動(dòng)測(cè)試和板上編程

管理員和操作員分級(jí)

打印測(cè)試報(bào)告

生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)包括軟件模塊

程序裝載：可以在測(cè)試同時(shí)對(duì)FPGA和CPLD裝載程序

Flash編程(option)：可以對(duì)任何形式的Flash存儲(chǔ)器編程

測(cè)試報(bào)告編輯：根據(jù)使用要求編輯任何形式的報(bào)告格式

執(zhí)行生產(chǎn)測(cè)試：完整的執(zhí)行測(cè)試編程平臺(tái)傳遞過來的測(cè)試任務(wù)。

測(cè)試掃描鏈路；

確認(rèn)器件的ID碼

ATPG1，2，3的測(cè)試

擴(kuò)展的功能測(cè)試

FPGA/CPLD數(shù)據(jù)流下載

FLASH編程

條碼讀出：對(duì)UUT識(shí)別方便

操作員面板：操作員只需根據(jù)板子類型選擇測(cè)試程序，運(yùn)行測(cè)試，

讀測(cè)試報(bào)告，無需專門培訓(xùn)。

管理員面板：管理員在生產(chǎn)測(cè)試之前可以調(diào)整測(cè)試順序，

確定JTAK連接電纜，信號(hào)確認(rèn)

REP 診斷維修平臺(tái)

針對(duì)維修階段或部門的故障診斷修理應(yīng)用

針對(duì)返修的板子，使用本平臺(tái)可以方便快速的診斷故障進(jìn)行修理。利用生產(chǎn)平臺(tái)傳遞的信息和圖形化的電路圖可以方便的看到故障位置。利用網(wǎng)點(diǎn)導(dǎo)航可以把故障定位在網(wǎng)點(diǎn)上。結(jié)合探針可以很快的確定和排除故障。

診斷維修平臺(tái)技術(shù)要點(diǎn)

觀看電路圖圖形

圖形上標(biāo)識(shí)出故障點(diǎn)

故障點(diǎn)定位

執(zhí)行測(cè)試程序

輸出統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)

針對(duì)故障診斷需求編寫特殊測(cè)試

故障平臺(tái)包括軟件模塊

工具箱：先進(jìn)的調(diào)試功能，獨(dú)立確認(rèn)TMS, TCK, TDI, TDO, TRST信號(hào)

交互式調(diào)試：隔離故障，便于調(diào)試診斷

測(cè)試擴(kuò)展：TCL測(cè)試擴(kuò)展用于測(cè)試用戶自定義的其他進(jìn)一步測(cè)試

程序裝載：可以在調(diào)試和測(cè)試同時(shí)對(duì)FPGA和CPLD裝載程序

Flash編程(option)：可以對(duì)任何形式的Flash存儲(chǔ)器編程

測(cè)試報(bào)告編輯：根據(jù)使用要求編輯任何形式的報(bào)告格式

網(wǎng)點(diǎn)導(dǎo)航：生成交互式參考表，顯示網(wǎng)點(diǎn)，引腳，JTAG單元，

可以按名字，引腳，單元搜索

PCB 視圖(option)：利用圖形化顯示的電路圖可以方便的看到測(cè)試顯示的故障位置

執(zhí)行生產(chǎn)測(cè)試：完整的執(zhí)行測(cè)試編程平臺(tái)傳遞過來的測(cè)試任務(wù)。

測(cè)試掃描鏈路；

確認(rèn)器件的ID碼

ATPG1，2，3的測(cè)試

擴(kuò)展的功能測(cè)試

FPGA/CPLD數(shù)據(jù)流下載

FLASH編程